レニショー 株式会社 santec Japan 株式会社12XM…レーザー測定システムは…1…回のセットアップで、直線軸に沿った…6…自由度（位置決め、ピッチ、ヨー、ロール、水平真直度および垂直真直度）を同時測定できます。通常の位置決め測定で行う…1…回の測定作業で軸に関するあらゆる幾何誤差を測定する高機能診断ツールです。6自由度を測定することで、位置決め測定のみを行っていた場合に特定できていた影響だけではなく、各自由度における誤差の原因特定ができるようになります。ラウンチユニットは側面、上下逆さま、背面のどの向きに設置しても測定が可能なため、垂直軸のテスト、傾斜ベッドタイプの旋盤、通常より複雑な構造を持つ機械に効果的です。CARTO…Compensateソフトウェアを使用することで、工作機械の空間誤差補正やピッチ補正作業を工作機械のネイティブ言語で誤差を半自動補正することが可能です。繰り返し精度:±1um測定スピード:200,000…points/secレーザー干渉測長機長さ寸法・距離…XM-60 マルチアクシスキャリブレータXM-60…は、1…回の測定で直線軸に沿った…6…自由度を同時に測定するレーザー測定システムです。光学三次元計測器 "OPS-1000"高精度光学三次元測定器 あらゆる条件で高精度の計測を実現高速波長可変レーザ技術を干渉計測に応用して、世界最高レベル（当社調べ）の測定感度を実現しました。測定物の形状、材料、色、表面状態を問わず、非接触・高速・高精度測定が可能。従来の光学式測定器では計測出来なかった鏡面、角度の付いた面、ガラス面においても計測できます。
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